光刻机发展历程
光源 |
波长(nm) |
对应设备 |
最小工艺节点(nm) |
|
第一代 |
g-line |
436 |
接触式光刻机 |
800~250 |
接近式光刻机 |
800~250 |
|||
第二代 |
i-line |
365 |
接触式光刻机 |
800~250 |
接近式光刻机 |
800~250 |
|||
第三代 |
KrF |
148 |
扫描投影式光刻机 |
180~130 |
第四代 |
ArF |
193 |
步进扫描投影光刻机 |
130~65 |
浸没式步进扫描投影光刻机 |
45~22 |
|||
第五代 |
EUV |
13.5 |
极紫外光刻机 |
22~7 |
EUV光刻机特点
EUV光刻机核心技术
NXE:3400B光刻机光学系统性能
项目 |
NXE:3400B |
重量(kg) |
1600 |
波长(nm) |
13.5 |
NA |
0.33 |
k1 |
0.32 |
分辨率(nm) |
13 |
步进扫描间距(mm) |
26*33 |
每个视场像素 |
5.1*1012 |
吞吐量(片/h) |
125 |
数据速率(像素/s) |
1.5*1013 |
未来发展
小 结
以下文章来源于高端装备产业研究中心 ,作者太阳谷